Support
晶圆研磨平整度不均匀?
监诊实绩|晶圆研磨平整度不均匀?对于研磨过程中因为机台设备异常导致晶圆平整度不佳,表面粗糙度不佳、倒角异常、边抛异常?
研磨/抛光加工
研磨/抛光加工晶圆研磨前会将特殊膜贴在研磨晶圆的背面,以确保正面IC不会受到损坏,然后开始进行研磨阶段。晶圆研磨(Back Grinding)主要是将晶圆通过背面打磨使厚度控制在能接受的范围内,抛光目的在于改善前制程所留下的微缺陷,提高晶圆平坦度,让微粒不易附着。
在研磨的过程中,晶圆片的厚薄度,也都会影响 IC 片最后的完成度。如:晶圆片太厚造成散热不良,太薄又容易导致破片。加上近来12吋晶圆需求越来越高,研磨制程的难度也就更加提高。
如何解决
研磨/抛光机台品质监测研磨及抛光制程决定晶圆最终厚度及表面粗糙度,制程中振动讯号过大,同样会造成晶圆平整度不佳、表面粗糙度不佳、倒角异常、边抛异常等结果,藉由机台监测,提早检知机械问题。若有发现产品异常,亦可以回溯量测数据来厘清异常原因。
量测状况
由下图中可得知,研磨过程中,藉由量测垂直晶圆表面的动态振动变化,可以确认晶圆受力变化是否有受到设备振动变化的影响。当转台主轴异常时,振动值过大且空转所造成的共振现象,容易造成晶圆片破片的损耗率提升。
测量结论
使用晶圆研磨/抛光机研磨目的在于改善制程前所留下的微缺陷,提高晶圆的平坦度,让微粒子不易附着。晶圆会经过锯片、研磨、机械抛光、化学抛光等程序。
对于设备的精度要求极高,在研磨的过程中,容易造成晶圆破裂(破片)、刮伤的状况发生,因此使用者需要能完整监测设备运转时流程的监测规划,以避免晶圆因为设备机况的异常而造成的损失。